作者：唐胜程; 王伟山; 景希玮; 冯中军; 林珩; ...x射线光电子能谱扫描电子显微镜聚羧酸减水剂硅酸三钙吸附厚度
摘要：为了进一步了解减水剂与水泥矿物相的相互作用,分别采用X射线光电子能谱（XPS）和扫描电子显微镜（SEM）研究了聚醚型聚羧酸减水剂（PCE）结构对硅酸三钙（C3S）水化产物表面电子状态和形貌的影响.结果表明：在吸附了PCE的样品中,C—H的C1s谱峰明显增强,并出现C—O的C1s谱峰,而Si2p谱峰明显减弱,PCE在C3S表面的吸附膜厚度为0.94-1.40nm;由于Ca元素填充于PCE吸附膜中,导致C3S表面的Ca2p谱峰强度变化较小;PCE结构对Si2p,Ca2p谱峰的化学位移影响显著,即PCE的羧酸根密度越大,样品的化学位移越明显;PCE结构不同,抑制C3S水化的程度也不同,并且PCE还可阻止C3S的水化产物相互黏结.
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