作者：牛颖; 张明艳; 董铁权; 曾恕金聚酰亚胺二氧化硅纳米杂化耐热性
摘要：利用正硅酸乙酯（TEOS）做为无机前驱体，采用溶胶-凝胶（Sol—Gel）法。制备了SiO2含量一定，固体含量不同的聚酰亚胺／二氧化硅（PI／SiO2）纳米杂化薄膜。采用傅立叶变换红外光谱（FT-IR）、原子力显微镜（AFM）、热重分析（TGA）等方法研究了杂化薄膜的结构与性能。AFM分析显示：SiO2粒子均匀分散在PI树脂中。随固体含量增加。SiO2粒子的平均粒径变大。有机相与无机相的界面变清晰；当固体含量为20％（质量分数）时。两相出现明显的相分离。TGA结果表明：引入一定含量的SiO2。有助于提高PI／SiO2纳米杂化薄膜的热稳定性；当固体含量高时，杂化薄膜的热稳定性下降。
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