作者：陈星; 吕晓明; 刘晓芹边界扫描测试性设计测试性改善设计复杂性二进制粒子群优化
摘要：介绍了边界扫描技术的基本原理,论述了板级电路测试性设计的思想,提出一种基于二进制粒子群算法的板级电路测试性设计最小化优化方法。实验结果表明,该算法在优化效果、运算时间上均获得了较好的结果。
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