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芯片级系统的在线测试技术

作者:江建慧; 员春欣在线测试高性能处理机容错计算vlsi芯片

摘要:在线测试是基本容错技术之一.把在线测试技术概括为差错控制码、重复与比较、在线监督等3类,对其发展历史进行了回顾,重点是20世纪90年代以来的成果,包括芯片设计方案、原型及产品.研究结果表明,在线测试技术已经融入了高性能处理机芯片的设计之中.

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计算机研究与发展

《计算机研究与发展》(CN:11-1777/TP)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。

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