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并发缺陷检测技术研究进展

作者:薄莉莉; 姜淑娟; 张艳梅; 王兴亚; 于巧并发程序并发缺陷缺陷检测软件测试

摘要:多核时代的到来使得并发程序的设计备受人们关注.然而,并发程序的并发性和不确定性容易引发并发缺陷.因此,快速且有效地检测出这些并发缺陷尤为重要.首先,将目前常见的并发缺陷分为五大类(并发类型状态缺陷、死锁、数据竞争、原子性违背和顺序违背);随后,从软件运行的角度,将现有的并发缺陷检测技术分为静态分析、动态分析和动静结合分析,并对每一类进行详细的分析、比较和总结;接着,对并发缺陷检测技术的通用性进行分析和总结;最后,从通用准确的并发缺陷检测、软硬件相结合的并发缺陷检测、并发缺陷检测修复一体化、适用于松散内存模型的并发缺陷检测、安卓等其他应用平台的并发缺陷检测和分布式系统非确定性并发缺陷研究等方面,对并发缺陷检测技术的未来研究进行了探讨.

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计算机科学

《计算机科学》(CN:50-1075/TP)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《计算机科学》报导国内外计算机科学与技术的发展动态,以其新颖、准确、及时为特色,突出动态性、综述性、学术性,“前沿学科”与“基础研究”相结合;“优秀技术”与“支撑技术”相结合;“倡导”与“争鸣”相结合。

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