作者：秦盼; 王健; 朱芳; 焦贵忠soc嵌入式存储器内建自测试内建自修复
摘要：嵌入式存储器的内建自测试及修复是提高SoC芯片成品率的有效办法。详细描述了存储器良率的评估方法,提出了一种基于Mentor公司Tessent工具的存储器修复结构。该结构采用了冗余修复及电可编程熔丝eFuse硬修复的方法,具有很好的通用性及可行性,已多次应用在实际项目中。
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《计算机工程与科学》（CN：43-1258/TP）是一本有较高学术价值的大型月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《计算机工程与科学》的办刊宗旨是为计算机界同行发表有创见的学术论文，介绍有特色的科研成果，探讨有新意的学术观点提供理想园地；活跃计算机界学术气氛，扩大国内外交流，为发展中国的计算机事业尽一点微薄之力。本刊强调学术性、及时性和普及性。
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