作者：赵振宇 赵学谦 张民选 郭斌 秦军瑞软错误set锁相环rhbd电路加固
摘要：单粒子瞬变（SET）现象对高性能计算的影响日益严重，本文对高性能微处理器中锁相（PLL）的RHBD（Radiation Hardened-By-Design）加固方法进行了分析和总结，从系统级和电路级两个方面对PIA。的SET加固方法进行了分类研究。分析结果表明，设计加固方法可以在较高的层次上考虑加固问题，降低了工艺依赖性，可以有效地提高PLL可靠性。
注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社
《计算机工程与科学》（CN：43-1258/TP）是一本有较高学术价值的大型月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《计算机工程与科学》的办刊宗旨是为计算机界同行发表有创见的学术论文，介绍有特色的科研成果，探讨有新意的学术观点提供理想园地；活跃计算机界学术气氛，扩大国内外交流，为发展中国的计算机事业尽一点微薄之力。本刊强调学术性、及时性和普及性。
北大期刊、统计源期刊
人气 542292 评论 58
部级期刊
人气 230156 评论 65
人气 228842 评论 63
人气 214635 评论 35
