作者：张俊彦 陈清明安全芯片穿透性测试攻击树攻击代价攻击路径非侵入式攻击半侵入式攻击
摘要：随着安全芯片应用范围的不断扩大和应用环境的日趋复杂，需要通过穿透性测试验证芯片的安全性，同时有必要对测试进行评估。为此，提出一种基于攻击树模型的安全芯片穿透性测试评估方法。分析安全芯片的穿透性测试过程，采用攻击树模型作为穿透性测试的描述模型，在此基础上提出攻击事件的多属性赋值方法、攻击代价的推算方法和攻击路径的分析方法。应用结果表明，该方法可准确评估安全芯片穿透性测试结果。
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