作者：刘国斌; 祝周荣; 宁静; 刘攀; 陈恩耀vcs仿真固存坏块管理
摘要：NANDFlash固态存储器(固存)广泛应用于航天工程,受限于微电子特性及制造工艺,固存在出厂及使用过程中均会产生坏块,通常由固存控制FPGA(现场可编程门阵列)来管理并标记坏块;为保证固存控制FPGA对坏块管理的正确性、健壮性,必须对其进行严格验证;提出了基于VCS的固存坏块仿真验证系统,为固存控制FPGA提供了所需的接口,特别是提供了固存坏块反馈机制,令固存坏块产生时机受控;实时向FPGA反馈固存读写过程及产生的坏块信息;将坏块表建立、维护和固存响应过程记录到数据文件;实现了坏块分布的可配置性和仿真系统的闭环性、可记录性;仿真系统可有效发现坏块管理的设计缺陷,进而优化设计,提高航天固存产品可靠性。
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