建立在模拟集成电路上的边界扫描设计

作者：冯长江 李晓峰 毛博模拟芯片边界扫描tap控制器性能测试

摘要：对模拟芯片边界扫描测试方法进行了研究，结合IEEE1149．1标准框架结构和IEEE1149．4标准混合信号测试总线思想构建了模拟芯片边界扫描测试电路，运用了数字移位寄存器和模拟开关构成模拟边界扫描单元，并编写了TAP控制器及其它电路的VHDL代码，通过实验仿真验证了测试电路的可行性。测试电路可以完成模拟芯片的简单互连测试以及性能测试。

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