作者:王炎辉; 何仑; 杨松华soc测试控制体系结构核设计控制结构soc系统集成电路电路测试边界扫描控制方法控制部分复杂性ip核
摘要:随着集成电路复杂性的提高和SOC系统的出现,电路测试的难度也在不断增大,测试问题已经成为SOC设计的瓶颈.在研究了现存的测试控制结构后提出了基于核设计的SOC测试控制结构,它以边界扫描控制体系为基础,融合多种测试控制方法,支持不同类型的IP核进行测试.从而解决了SOC测试中控制部分的一些问题.
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《计算机测量与控制》(CN:11-4762/TP)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。
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