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NI:通过开放式软件和可重配置硬件全新定义测试仪器

作者:李侠美国国家仪器测试仪器应用论坛ni系统集成模块化仪器测试速度市场部经理电子测试测试测量仪器

摘要:2014年5月27日,由美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)主办的第十一届PXI技术和应用论坛(PXI Technology Application Conference,即2014 PXI TAC)在上海拉开帷幕。为了更好地服务中国不同区域客户,本届PXI TAC有了新的变化——从每年只选择一个地方举办论坛改为多地举办。除了上海,2014 PXI TAC还将陆续登陆深圳、西安和北京等地。本次活动吸引了8家知名PXI供应商和系统集成商参加。

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今日电子

《今日电子》(CN:11-3227/TN)是一本有较高学术价值的月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《今日电子》杂志面向电子工程师和工程经理,涵盖集成电路、元器件、电源、仪器、通信、测试、设计及软件等方面,包括新技术发展动态,热点问题讨论、新产品、新技术及其应用等内容,侧重报道产品、技术、应用和市场趋势,积极促进电子技术的交流与发展,是业界很有影响的刊物。

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