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使用荧光光谱分析法(XRF)进行RoHS验证

作者:杨建生光谱分析法荧光扩散阻挡层成分测量xrf法无铅化一致性

摘要:随着欧盟RoHS最后期限的临近,很多公司都开始采用无铅化工艺,但要确保工艺的一致性,有效的检测方法是必不可缺的,荧光光谱分析法(XRF)就是其中之一。许多晶圆制造厂已开始用XRF法在薄镀层上进行光危害性成分测量,而且还用它探测扩散阻挡层裂口。

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