作者：Richard; Comerford大型物体冷却器低温天文研究ic缺陷传感器分析仪
摘要：位于美国科罗拉多州玻尔得的美国国家理工学院(National Institute of Technology,NIST)的研究人员开发成功一种片上"致冷器",可将大型物体冷却至mK(绝对温度)级.这种采用普通平版印刷方法制造的冷却器件可被用来对半导体缺陷分析仪和天体研究测量仪表中所使用的低温X射线传感器进行冷却.
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