作者：杨慎涛; 刘文波计量学数字电路板故障检测测试生成神经网络粒子群算法
摘要：随着集成电路的规模和复杂度的不断提高，高效地生成测试矢量已成为数字电路板故障检测的关键所在。在对测试向量自动生成问题分析的基础上，利用神经网络对被测电路进行数学建模，将测试矢量生成转化为数学问题，提出了一种高效求解该问题的粒子群优化算法。用VC＋＋对所提出的方法进行编程实现，并对ISCAS’85国际标准电路中的一些电路进行了实验。实验数据表明，故障覆盖率达到了100％，对于小规模电路单故障的测试时间与有关文献相比减少了13％，规模相对较大的电路的测试时间减少了61％，而且电路规模越大，时间的减少就越明显。
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