作者：张继涛; 罗志勇; 赵克功计量学阿伏加德罗常数硅球摩尔质量直径氧化层
摘要：综述了阿伏加德罗常数（NA）测量研究的最新进展。介绍了目前测NA准确度较高的方法-x射线晶体密度法，该方法通过测量单晶硅的摩尔质量、宏观密度和晶格常数得到NA。采用x射线晶体密度法有望实现NA相对测量不确定度达到2×10^-8。分析了当前限制NA测量准确度提高的关键研究内容：单晶硅摩尔质量、硅球直径和表面氧化层厚度的测量。并展望了NA测量未来的工作方向。
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