作者：王永红; 余晓芬; 俞建卫; 黄其圣; 徐科军计量学共焦显微镜并行检测分辨率微透镜阵列
摘要：分析了影响多光束并行共焦三维探测系统特性的各种因素,并与传统的扫描共焦显微术进行了对比分析,给出并行共焦系统横向和纵向分辨率的判定依据和测量范围指标,讨论改善系统性能指标的各项关键技术与途径.介绍了研制的多光束并行共焦检测实验系统的构成,并给出初步实验结果.
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《计量学报》（CN：11-1864/TB）是一本有较高学术价值的月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《计量学报》所刊登的英文文摘为《中国科学文摘》、《中国科技文摘》等收录，中文摘要为《计量测试文摘》、《中国物理文摘》等收录，部分英文摘要还为《EI》收录。
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