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光学经纬仪的光学测微器行差检定中应注意的几个问题

作者:张卫东; 王冬梅光学经纬仪光学测微器行差检定测量点

摘要:本文通过对仪器光学测微器(带尺显微镜)结构和其行差产生因素的分析以及对行差性质的阐述,说明应根据经纬仪的不同读数特点,适宜地选择行差检定的测量点和测量方法.

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计量技术

《计量技术》(月刊)创刊于1957年,由国家市场监督管理总局主管,中国计量科学研究院主办,CN刊号为:11-1988/TB,自创刊以来,颇受业界和广大读者的关注和好评。 《计量技术》坚持为社会主义服务的方向,坚持以马克思列宁主义、思想和邓小平理论为指导,贯彻“百花齐放、百家争鸣”和“古为今用、洋为中用”的方针,坚持实事求是、理论与实际相结合的严谨学风。

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