微种植体辅助整体内收上前牙段的头影测量

作者：张华; 麦志辉; 卢红飞; 艾虹; 文冲x线头影测量微种植体支抗整体内收

摘要：目的：研究微种植体支抗在矫治上颌前突病例中整体内收上前牙段的应用。方法：选择5例上颌前突患者，拔除第二前磨牙，采用直丝弓矫治技术，辅以微种植体支抗同时整体内收前牙段（6个前牙及2个第一前磨牙），通过X线头影测量分析，观察矫治前后上颌骨软硬组织的变化。结果：上颌骨的变化轻微；切牙平均内收（4．6±1．5）mm，压低（0．8±1．1）mm，根尖后移（1．7±1．4）mm，切牙与腭平面的夹角减少（6．8±3．5）度；支抗磨牙水平前移（0．5±0．3）mm，没有出现明显的颌向伸长；上唇突度减少（2．0±0．9）mm，鼻唇角增大（3±2．4）度。结论：微种植体能提供稳定的支抗，同时整体内收上前牙段，最大限度避免支抗的丧失，改善上唇突度。

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