作者：郭世汉 涂昀 曾波 曹祖选 金辉电感耦合等离子体原子发射光谱法铝硅磷硼硼铁合金
摘要：探讨了电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP—OES）测定硼铁中铝、硅、磷、硼的分析条件。试样经过氧化钠熔融，盐酸酸化，采用ICP—OES于同一试液中联合测定铝、硅、磷、硼，铁的背景干扰采用背景校正扣除。确定了仪器的最佳分析条件，选择铝、硅、磷、硼的分析谱线分别为396．152nm，251．611nm，178．284nm，249．773nm。该法已用于硼铁合金标准样品中铝、硅、磷、硼的测定，测定结果与认定值相符，相对标准偏差（n=7）为0．56％-3．3％，加标回收率在96％-103％。
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