作者:李春领; 秦艳红; 程雨; 王春红碲镉汞薄膜损伤层厚度白光干涉仪表面粗糙度
摘要:HgCdTe薄膜表面损伤层厚度测试对其加工工艺及其重要。本文采用白光干涉仪对HgCdTe薄膜表面粗糙度测试,并与损伤层厚度对比,研究发现粗糙度值达到稳定值后,上一步工艺引入的表面损伤已经完全去除,表面的损伤为抛光工艺引入的损伤。这一方法,既能方便快捷地确定损伤层是否完全去除,又未对测试样品产生破坏。
注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社
《激光与红外》(CN:11-2436/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。
北大期刊、CSCD期刊、统计源期刊
人气 40140 评论 57
人气 36656 评论 48
人气 29826 评论 56
北大期刊、CSCD期刊
人气 28876 评论 49