碲镉汞表面硫化的光电子能谱及器件性能研究

作者：汤英文; 庄春泉; 许金通; 游达; 李向阳; ...光电子谱hgcdte表面硫化电学性质

摘要：利用X射线光电子谱(XPS)对HgCdTe表面的硫化特性进行了研究,发现溴腐蚀后的表面硫化处理可以去掉表面的氧化层,Te富集的程度大大减少,硫化处理后再长硫化锌对器件进行钝化,可以大大减少器件的表面漏电,增加器件工作电压和提高器件性能.

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