作者：赵峰; 郑力明; 廖常俊; 刘颂豪单光子后脉冲探测器门控技术暗计数单光子探测器计数红外脉冲宽度有效方法
摘要：分析暗计数的来源,讨论温度及门控模式下各种参数对暗计数的影响,提出减小暗计数的有效方法.太低的温度不利于暗计数的减小,而应根据不同的APD选择合适的温度并与门控技术结合来消除暗计数.偏置电压的大小、门脉冲宽度和周期的选择对后脉冲的消除起着关键的作用.
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