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时域荧光寿命显微镜

作者:罗山荧光寿命显微镜时域皮秒激光器二极管抽运光强度测量被动锁模激光输出平均功率入射功率激发脉冲重复率激光源三倍频荧光团本征波长

摘要:法国研究者基于定制的皮秒激光器研制出一种时域荧光寿命(FLIM)显微镜,其激光源是一种低重复率(3.7MHz)被动锁模二极管抽运Nd:YVO4基激光器。对激光输出进行倍频或三倍频,可容易地产生532nm或355nm光,平均功率为几十毫瓦。此两个波长可以覆盖很宽的本征荧光团范围及通常使用的远高于1mW的入射功率。由于荧光强度测量可以在激发脉冲照射后250ns进行,可测量寿命也有所增加。

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激光与光电子学进展

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