作者：占美琼; 谭天亚; 贺洪波; 邵建达; 范正修石英晶体晶振光学薄膜工作波段膜厚监控直接可控振荡稳定性
摘要：石英晶体振荡监控光学薄膜厚度是直接监控光学薄膜物理厚度的方法,与工作波段无关,设置简单,各种厚度皆可控制,易于实现自动控制,将会越来越广泛地应用在光学薄膜厚度监控中.本文首先介绍了石英晶体监控膜厚仪监控光学薄膜厚度的原理,然后讨论了石英晶体监控仪的发展和晶振片的稳定性.
注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社
《激光与光电子学进展》（CN：31-1690/TN）是一本有较高学术价值的大型月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《激光与光电子学进展》旨在关注科技发展热点，报道高新技术前沿，追踪科技研发动态，介绍科学探索历程；展示最新科技产品，汇萃时尚科技讯息。
北大期刊、CSCD期刊、统计源期刊
人气 40163 评论 57
统计源期刊
人气 36735 评论 57
人气 36728 评论 48
省级期刊
人气 36352 评论 63
