熔锥型光纤耦合器损耗分析

作者：柳春郁; 余有龙; 高应俊光纤耦合器熔锥型otdr损耗分析折射率几何光学理论高质量吻合实验监测

摘要：利用几何光学理论对光纤耦合器的损耗进行分析;当环境介质折射率发生变化时光纤耦合器的损耗随之变化,理论推导损耗与环境介质折射率的关系公式,实验中利用OTDR检测反射光实现环境介质折射率变化的监测,利用拉锥机监视损耗的变化,得到的实验值与公式计算值基本吻合,证实了耦合器锥区环境介质折射率恒定是高质量耦合器的保证.

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