作者：施清清变频空调ipmesd电性能晶元结构过电击穿eos
摘要：针对空调用IPM模块在生产过程及用户使用一段时间后出现IPM电性能失效问题，本文从IPM失效机理、器件结构工艺设计、ESD器件应用环境器件设计质量可靠性等方面进行分析。通过器件失效机理、X光、开封、ESD测试、空调整机波形测试分析等对IPM器件本身全方位分析论断，分析结果表明：IPM整体设计存在质量缺陷，IPM驱动芯片抗ESD能力水平低、IPM内部IGBT极限耐压水平较低，IPM驱动芯片集成度过高内部电路设计存在缺陷，难以实际应用环境中以较高的可靠性工作，本次IPM电性能失效实际与器件本身设计质量缺陷存在较大关联；从器件本身可靠性设计、晶元内部电路设计、晶元内部结构布局设计全面整改，从器件本身质量提升着手，进行全面、系统化提升器件质量。
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