HI,欢迎来到学术之家,发表咨询:400-888-7501  订阅咨询:400-888-7502  股权代码  102064
0

利用二极管V_F值与结温的关系评估大功率半导体器件的固晶可靠性

作者:袁伟刚 赵承贤 沐运华 范庆庆 邓涛 郑金...二极管pn结伏安特性导通压降固晶焊锡

摘要:大功率半导体器件的散热性能直接影响其可靠性,功率芯片固晶一般采用焊锡焊接提高散热性能。本文通过测试二极管的伏安特性与结温的关系,重点研究温度对PN结的影响,此影响主要表现为随着温度的升高,二极管的正向导通压降VF会线性减小,利用此特性来评估大功率半导体器件封装工艺中固晶可靠性。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

家电科技

《家电科技》(CN:11-4824/TM)是一本有较高学术价值的大型双月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《家电科技》秉承架构国内外业界技术互动平台,传递上下游产业科技信息,促进家电及相关行业技术创新和科技进步的理念,密切关注家电行业的技术、标准、产品、统计等业内热点。

杂志详情