HI,欢迎来到学术之家,发表咨询:400-888-7501  订阅咨询:400-888-7502  股权代码  102064
0

IPM短路测试与短路能力分析

作者:李鑫 沐运华 徐世明 赵承贤短路测试短路能力igbtipm影响因素

摘要:本文说明了IPM产品短路测试的基本方法,针对目前市场上常用的IPM产品进行短路测试并取得短路电流波形,分析了影响IPM产品短路能力的几个因素,结果发现,温度越高IPM产品的短路能力越差;驱动电源电压越大,短路耐量越差;IGBT的MOS沟道宽度越宽,IPM的短路能力越差。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

家电科技

《家电科技》(CN:11-4824/TM)是一本有较高学术价值的大型双月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《家电科技》秉承架构国内外业界技术互动平台,传递上下游产业科技信息,促进家电及相关行业技术创新和科技进步的理念,密切关注家电行业的技术、标准、产品、统计等业内热点。

杂志详情