作者:张金萍; 张爱莲小儿高热惊厥出院健康教育患儿家长常见多次复发急症脑细胞智力发育时间
摘要:小儿高热惊厥是儿科常见急症,如得不到及时救治,惊厥时间长或多次复发可使脑细胞受损,影响智力发育.加强患儿家长的健康教育,对控制惊厥和有效地预防再次发生尤为重要.
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《基层医学论坛》(CN:14-1314/R)是一本有较高学术价值的大型旬刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。
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