作者：罗斌集成电路测试激励源硬件光特性参数测试系统级芯片
摘要：针对移动智能终端、安防监控、高清影像、航天航空等领域高端图像传感芯片产品测试需求,搭建基于自动测试设备ATE的测试环境。研究开发光电测试激励源硬件设计技术、图像传感芯片关键参数测试技术及测试算法。解决White Balance、Shading、Sensitivity,Point Defect、Blotch Defect、FPN等图像传感芯片关键参数测试难点,实现相关参数精准测试,形成整体测试解决方案,实际使用ATE针对一款高集成度图像传感芯片进行测试验证,完成光敏感度、暗场电流、坏点、坏列、固定图形噪声(FPN)、ADC性能、DSP性能等测试,形成基于ATE的高集成系统级芯片一体化测试解决方案。
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