检入管理CIMS系统中的集合覆盖问题SCP研究

作者：方琼; 邵瑾集成电路设计源码版本管理集合覆盖测试用例筛选贪心算法

摘要：在图形处理芯片GPU芯片架构设计过程中,针对C-model源代码管理,设计了一套检入管理系统CIMS（Check In Management System）,并根据集合覆盖原理提出一种新的优选策略,用于筛选CIMS系统中的测试用例。实验表明,该算法获得的测试集合,在时间约束条件下,能有效覆盖已有代码,充分发挥预检功能。

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