全定制版图设计中信号完整性问题的分析

作者：王强; 黄令仪信号完整性版图设计全定制小尺寸幅度工程师性问题巨大分析失败

摘要：随着集成电路制造工艺水平的不断提高，使得0．18um及更小尺寸的设计成为可能，但是由于信号完整性问题而导致的流片失败使得整个设计的成本大幅度上升。如何避免出现信号完整性问题是设计工程师所面临的巨大挑战。本文介绍了0．18um工艺下进行全定制版图设计中所遇到的信号完整性问题，并对其进行了分析。

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