HI,欢迎来到学术之家,发表咨询:400-888-7501  订阅咨询:400-888-7502  股权代码  102064
0

优化划片工艺提高划片合格率

作者:王涛; 张乐银切割速度崩角划片速度机械应力

摘要:在一个晶圆上,通常有几百个至数千个芯片连在一起。它们之间留有80μm至150μm的间隙,此间隙被称之为划片街区。将每一个具有独立电气性能的芯片分离出来的过程叫做划片或切割。通过对DAD3350型划片机的调试、使用,积累了工艺经验;针对工艺中出现的不合格品的情况,进行了工艺分析、原因排查、试验优化等,使划片合格率达到99.5%以上。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

集成电路通讯

《集成电路通讯》是一本有较高学术价值的大型季刊,自创刊以来,理论联系实际,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度,颇受业界和广大读者的关注和好评。

杂志详情