作者：李杰中大功率电路金属外壳粗铝丝键合金带键合金属间化合物
摘要：多金属键合体系在可靠性方面往往会出问题，中大功率HIC电路的金属外壳的引线键合通常是多金属键合体系，因此也不可避免产生金属间化合物。如何防止金属间化合物产生致命的失效，是摆在组装工程师面前的一个难题。本文从多角度对中大功率电路金属外壳键合进行分析，通过材料的改进和工艺的优化，使得中大功率电路金属外壳引线键合的可靠性得到一定的提升，并给出一套中大功率电路金属外壳引线键合工艺设计方案。
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