作者:明源; 曾雪来晶圆单管pcmsmu
摘要:为了使4200型半导体特性描述系统(以下简称4200系统)能够最大限度地发挥作用,根据工作需要将该系统首次用于PCM参数测试。同时,与使用传统的晶体管图示仪测试的PCM参数进行了对比。结果表明,4200系统在PCM参数测试中具有很高的实用性,为稳定工艺提供了可靠监控手段。
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