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厚膜混合集成电路的失效分析及其缺陷产品的筛选淘汰

作者:侯翠群厚膜混合集成电路失效分析失效机理缺陷产品筛选淘汰机制

摘要:介绍了厚膜混合集成电路的失效分析程序,总结了在生产与使用中发现的主要失效模式,对失效机理进行了研究,提出了对存在缺陷产品的有效筛选淘汰方法。

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集成电路通讯

《集成电路通讯》是一本有较高学术价值的大型季刊,自创刊以来,理论联系实际,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度,颇受业界和广大读者的关注和好评。

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