作者：何柏纬; 梁义志; 许哲伦; 德士柏; 高甫仁激发探测显微术受激辐射锁模探测
摘要：基于激发-探测显微技术研究受激增益与自发衰减现象。采用脉冲二极管激光器（λ_（pu）=635 nm作为激发光束）与锁模掺钛蓝宝石激光器（λ_（pr）=780 nm作为探测光束）。受激增益部分,发射光束在频率f_1被调制,利用光电二极管作为探测器（PDA 36A,Thorlabs）,探测光被相应地解调来提取透射方向的信号;自发损耗部分,探测光束在频率f_2被调制,从探测荧光由光电倍增管以反射模式解调自发损耗信号。所有情形下使用高性能锁模放大器（HF2LI,Zurich Instruments）。锁模放大器的输出信号接着输入扫描单元的A/D通道用于图像重构。扫描速率设为频率500 Hz,与锁模放大器1.99 ms的时间常数相匹配。由解调荧光信号获取背景大大减少的荧光寿命和光学部分属于散粒噪声的图像。另外,此技术改善信噪比,提高类似多光子显微镜的穿透深度,无须昂贵的飞秒激光器。
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