作者:任士远; 林春; 魏彦锋; 周松敏; 王溪; 郭...hgcdte电容载流子浓度缓变pn结
摘要:报道了液氮温度下对HgCdTe器件进行电容测试的方法。标定了仪器寄生电容以及杜瓦寄生电容,并利用该测试结果计算得到PN结区附近的载流子浓度和相应的深度等数据。对比了碲镉汞常规PN结器件与雪崩光电二极管(APD)器件的耗尽层宽度以及N区载流子浓度。
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《红外技术》(CN:53-1053/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《红外技术》的军事应用,红外和热成像观瞄、识别、跟踪、制导,红外警戒与微光夜视技术,红外对抗与反对抗技术是本刊宣传报道的重点。
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