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基于硅雪崩光电二极管的紫外盖革模式电路的研制

作者:邢怀昌; 许金通; 李向阳雪崩光电二极管盖革模式紫外死时间暗计数

摘要:本文旨在研制盖革模式电路并在两种紫外光照射下测试电路性能,为紫外通信提供数据参考。研制了适用于硅雪崩光电二极管(APD)的主动、被动两种盖革模式电路,设计并实现了输出可调至300.0V的高稳定直流高压偏置电源,实测纹波电压小于20.4mV,纹波系数小于6.8×10^-5。分别在可见盲和日盲两种紫外光照下,测试了被动盖革模式APD的死时间、暗计数和光子计数,给出了被动盖革模式工作的较佳高压偏置范围;紫外光照下,被动盖革模式APD的电路输出脉冲的死时间为1.0μs。基于被动盖革模式电路测试的参数,研制了主动盖革模式电路,实验结果表明:主动盖革模式电路输出脉冲的死时间为102.0ns,光子计数的上限由被动盖革模式的1.0MHz提高到主动盖革模式的9.8MHz。因此主动盖革模式电路在数据传输时有更高的传输带宽,预计可满足一些图像传输或者视频通信的基本要求。

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红外技术

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