导引头光学系统性能测试仪的研制

作者：彭其圣红外导引头电荷耦合器件数据采集自动聚焦性能测试仪

摘要：研制了一种基于1.064 μm导引头的光斑测试仪.该测试仪以1.064 μm导引头为被测对象,以红外面阵CCD探测器为接收器,采用1.064 μm的激光光源模拟无穷远点光源,分析光源通过被检系统后,其焦平面上成像光斑的质量.通过RS-232串口通讯及图像采集卡的实时数据采集自动寻找最佳像面位置及最大视场角.测试结果表明:系统重复性好、可靠性高、自动化程度高.

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