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基于单片机的APD参数测试系统设计

作者:洪家平; 高美珍; 殷志文apd测试单片机升压电路微小电流检测

摘要:雪崩光电二极管(APD)是一种高灵敏度、高速度的光电器件,是光纤接入的必备核心器件。其性能测试在业界一直存在成品率低、生产效率不高、精度低、不能大规模用于生产测试等问题。本测试系统采用单片机控制,具有价格低廉,效率高等特点,与国外普遍使用的数字源表来测量APD参数相比具有明显的优势。

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湖北师范大学学报·哲学社会科学版

《湖北师范大学学报·哲学社会科学版》(双月刊)创刊于1981年,由湖北省教育厅主管,湖北师范大学主办,CN刊号为:42-1890/C,自创刊以来,颇受业界和广大读者的关注和好评。 《湖北师范大学学报·哲学社会科学版》办刊宗旨是 :注重社会热点; 注重理论创新;注重师范特色;注重学术规范。及时反映最新学术研究成果,激发理论探讨,培育学术新人,为本校学科建设服务,为促进哲学社会科学学术事业的繁荣服务。

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