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抗恶劣环境电子模块内部间隙设计

作者:张丰华; 焦超锋; 李晓明高密度组装间隙设计公差形变

摘要:通过具体抗恶劣环境电子模块故障案例,分析得出模块内部合理安全间隙是机械结构设计重点。从公差累积和形变因素两个方面进行分析,详细说明如何考虑公差累积和避免模块形变的方法,为类似高密度模块设计提供设计参考。

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航空计算技术

《航空计算技术》(CN:61-1276/TP)是一本有较高学术价值的大型双月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《航空计算技术》旨在追踪计算技术最新发展动态、交流计算技术最新研究成果、推动各行业计算技术不断进步、促进科技人员知识不断更新。

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