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符合多普勒展宽测量系统的性能研究

作者:王丹妮 王宝义 张兰芝 钟玉荣 章志明 李...正电子湮没符合多普勒展宽性能研究

摘要:研制了一套具有外触发和内触发两种工作模式的高性能符合多普勒展宽测量系统(Coincident Doppler Broadening,CDB),其中外触发模式具有更好的时间分辨(FWHM〈7ns)和更高的峰谷比(〉10^6),适于强源高计数率测量(符合计数率〉200/s);数字化的内触发模式,由于不需要复杂的电路,造价便宜、稳定性好因而更为实用,但时间分辨率(94ns)和峰谷比(〉10^5)明显逊于外触发模式。通过软件算法进行滤堆积处理后,在低符合计数率(~100/s)测量时峰谷比也能达到外触发水平(10^6)。本文系统介绍了谱仪的基本性能,测试了高纯金属标样Cu、Ni、W和A1的多普勒展宽谱,同时通过飞行正电子湮没(Positron Annihilation in Flight)实验验证了相对论动能公式E^2tatal=p^2c^2+m^2ec^4,结果表明谱仪在时间分辨和去本底(峰谷比优于10^6)方面都具有较高的性能;作为应用例,表征了偏离正常化学比NiA1合金正电子湮没位置的化学环境,结果表明,CDB系统对开空间缺陷周围的化学环境变化具有较高的灵敏性,在材料微结构研究领域具有广泛的应用前景。

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核技术

《核技术》(CN:31-1342/TL)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《核技术》的主要学术方向为:同步辐射技术及应用,低能加速器技术、射线技术及应用,核化学、放射化学、放射性药物和核医学,核电子学与仪器,核物理与交叉学科研究和核能科学与工程等。

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