作者：郭建亭; 李玉芳; 熊良钺正电子湮没ni3alzr水冷空冷扩散
摘要：测量了在Ni3Al(Zr)合金经高温均匀化处理后,在空冷和水冷条件下的正电子寿命谱.结果表明,Ni3Al(Zr)合金经高温均匀化后,随即进行空冷时,随着Zr含量的增加,正电子在合金中的寿命谱特征参数降低,捕获率K降低.表明Zr原子扩散到晶界,并在晶界偏聚.而合金经高温均匀化后水冷时,合金的正电子寿命谱特征参数随着Zr含量的增加几乎没有变化.由于冷却速度较快,Zr原子来不及扩散到晶界上,而以固溶方式存在于Ni3Al基体中.
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