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Gamma过程退化失效可靠性分析

作者:孙中泉 赵建印可靠性退化失效gamma过程

摘要:退化型失效产品,可通过退化失效分析对其进行可靠性统计推断。性能退化一般是一个随机过程,并且是单调变化的,为描述产品的退化,给出了一个随机Gamma过程模型,通过求解该过程的首达时分布即可获得产品的失效分布。由于解析方法求解存在很大的难度,给出了一种基于仿真的求解方法。利用所得模型对强激光装置所用的某型金属化膜脉冲电容器进行了可靠性分析,说明了模型的适用性。

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海军航空工程学院学报

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