作者：朱卫华; 印友法; 蒋林华; 车黎明硅粉水泥石x射线小角散射孔界面分形结构
摘要：采用X射线小角散射(SAXS)技术，对硅粉水泥石中微孔孔界面分形结构进行实验研究．结果表明，硅粉水泥石中微孔界面不具有分明的边界，而是有一个2nm左右的电子密度缓变的过渡层；微孔界面具有分形结构特征，分形维数与3接近，说明其孔界面是非常粗糙的；水胶比、硅粉含量对孔界面分形维数具有显著的影响，笔者根据实验结果，从微观的角度进行了探讨性的解释．
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