作者：吴继娟; 孙媛媛; 刘桂艳bistfpga逻辑单元现场可编程门阵列内建自测响应检验电路故障覆盖率
摘要：给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法,讨论了测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问题及解决办法.实验表明,该测试方法具有所需测试向量少、故障覆盖率高、简便适用等优点.
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