作者：张月昭; 于得洋mcp探测器位置谱刻度多项式
摘要：重离子与原子、分子和固体等碰撞实验中,直接用微通道板(MCP)探测器测得的反应产物的位置谱往往存在某种非线性畸变,给数据分析造成很大困难。本工作探讨了一种基于多项式的“拟合/插值”二维谱刻度方法,并将其应用于一种新型阻性阳极MCP探测器的二维位置谱刻度中,对其非线性进行了很好的修正。这种刻度方法在很大程度上放宽了不同实验对MCP探测器阳极的要求,也使后者获得了更广泛的应用。
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《核电子学与探测技术》（CN：11-2016/TL）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《核电子学与探测技术》为专业学术性刊物。刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
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