作者：赵丹阳; 王光伟; 潘卫民; 孙毅; 林海英损失参数bepcii电子环相位检测channelarchiver
摘要：采用数字化相位检测技术,设计了一套高精度相位检测系统,将其应用于BEPCD电子环束流相位和腔相位的检测,测量了BEPCⅡ电子环损失参数。测试结果表明:该系统的分辨率为±0.001°。该系统实现了实验数据的快速存储和检索,获取、处理相关数据更加高效、快捷。
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《核电子学与探测技术》（CN：11-2016/TL）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《核电子学与探测技术》为专业学术性刊物。刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
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